日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器具有高輻照度、大尺寸光斑、均勻性和穩(wěn)定性良好、長時間持續(xù)工作等優(yōu)勢，各項技術指標均處于國內水平。太陽模擬器的投入使用，有效提高了真空環(huán)境下目標的測量范圍和測量精度，對我國模擬測量工作具有重要意義。

　　太陽光模擬器由光源、儲能供電電路、觸發(fā)電路、電子負載、采集電路以及計算機等模塊組成，在整個太陽模擬器中，其中的關鍵部件可以分成六個模塊，它們是：光源，儲能供電模塊，濾光系統(tǒng)，勻光系統(tǒng)，電子負載，軟件系統(tǒng)。

　　判定日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器性能的三個重要指標。

　　1. 光譜匹配度

　　光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm、500-600nm、600-700nm、700-800nm、800-900nm和900-1100nm這6個光譜范圍內與真實太陽光的匹配程度，用百分比來表示。根據數據的偏離情況對模擬器匹配程度的等級進行劃分。

　　2. 輻照空間均勻性

　　在一定測試區(qū)域的輻照度應達到一定的均勻度要求。計算方法為：不均勻度=（大輻照度-小輻照度）/（大輻照度+小輻照度）×100%。

　　光照均勻性是難達到和保持的一項指標，工作面積上的強光點會導致被測電池效率產生嚴重誤差，并導致電池分級錯誤。均勻度*的模擬器就能將這種強光點對產品的影響降到低，其空間均勻性嚴格控制于≤2%。

　　3. 輻照時間穩(wěn)定性

　　輻照穩(wěn)定性是AA*標準的第三項性能參數指標，它要求日本SAN-EI 雙燈太陽光模擬器的輸出光束長時間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測定的性。對于輻照不穩(wěn)定性，還細分為長期不穩(wěn)定性（LTI）和短期不穩(wěn)定性（STI），分別對應整個IV測試過程中輻照度的變化和取點過程中輻照度的變化。